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| 全自动高精度椭圆偏振光谱仪(ELLIP-SR-Ⅱ专业型) |
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| 主要适用于科研院所的信息光电子功能薄膜、体材料的光学性质和结构特性研究，可被研究材料种类包括：金属和合金、元素和化合物半导体、绝缘体、超导体、磁性和磁光材料、有机材料、多层薄膜材料等。在测量中，可按研究条件同时对入射角和波长进行自动精细扫描，增加研究的灵活性，便于用户获得更多的光谱信息进行数据分析，提高研究的质量和可靠性。该光谱仪的性能指标达到国际同类技术的先进水平 。 |
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主要用途：
1. 各种功能材料的光学常数测量和光谱学特性分析；
2. 测量薄膜材料的折射率和厚度；
测量对象包括：金属、半导体、超导体、绝缘体、非晶体、超晶格、磁性材料、薄膜材料、光电材料、非线性材料；
测量光学常数：复折射率的实虚部、复介电常数的实虚部、吸收系数a、反射率R.
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