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全自动单波长椭圆偏振仪(ELLIP-ER-Ⅰ普及型)

本公司研制的固定波长可变入射角椭圆偏振光谱仪，广泛适用于大学教学和工业生产领域，具有很高的性价比，为一款普及型的测试仪器。

主要用途：
1. 各种功能材料的光学常数测量和光谱学特性分析；
2. 测量薄膜材料的折射率和厚度；
测量对象包括：金属、半导体、超导体、绝缘体、非晶体、超晶格、磁性材料、光电材料、非线性材料；测量光学常数：复折射率的实虚部、复介电常数的实虚部、吸收系数a、反射率R.